【单选题】
根据所测参数的类型，半导体分立器件测量仪器大致可分为（）。①直流参数测量仪器②交流参数测量仪器③极限参数测量仪器④晶体管特性图示仪
①
①②③
②
①②④
③
①②③④
④
②③④
【多选题】
受限空间监测方法正确的是（ ）。
①
A、 作业前30min内，应对设备内气体采样分析，分析合格后方可进人设备。
②
B、 采样点应有代表性，容积较大的受限空间，应采取上、中和下各部位取样。
③
C、 作业中应定时监测，至少每2h监测一次，如监测分析结果有明显变化，则应加大监测频率；作业中断超过30min应重新进行监测分析，对可能释放有害物质的受限空间，应连续监测。情况异常时应立即停止作业，撤离人员，经对现场处理，并取样分析合格后方可恢复作业。
④
D、 采样人员伸人或探人受限空间采样时应采取相应规定的防护措施。